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EMC測(cè)試國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 17626匯總

更新時(shí)間:2023-08-23      點(diǎn)擊次數(shù):1241

我國(guó)的EMC標(biāo)準(zhǔn)管理和發(fā)布單位是國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)(SAC),IEC標(biāo)準(zhǔn)已廣為歐洲、美國(guó)、日本、中國(guó)等地區(qū)和國(guó)家采用,在消除國(guó)際技術(shù)貿(mào)易壁壘和產(chǎn)品符合性認(rèn)證中發(fā)揮著重要的作用。例如,本文中要介紹的GB/T17626.X,其中大部分內(nèi)容就是參考了國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-X系列。國(guó).家.推()薦新標(biāo)準(zhǔn)《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) GB/T 17626》系列,截止目前,現(xiàn)行最新的國(guó)標(biāo)GB/T 17626一共27個(gè),其中《GB/T 17626.5-2019》發(fā)布日期為2019年6月4日,2020年1月1日實(shí)行,替代《GB/T 17626.5-2008》舊版標(biāo)準(zhǔn)。本文介紹EMC測(cè)試中涉及的GB/T17626系列相關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),在這里和大家分享。

GB/T 17626.1-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 抗擾度試驗(yàn)總論

GB/T 17626.2-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗(yàn)

GB/T 17626.3-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)

GB/T 17626.4-2008 電磁兼容_試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)

GB-T 17626.5-2019 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)

GB/T 17626.6-2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度

GB/T 17626.7-2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波、諧間波的測(cè)量和測(cè)量?jī)x器導(dǎo)則

GB/T 17626.8-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 工頻磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)

GB/T 17626.9-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 脈沖磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)

GB/T 17626.10-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 阻尼振蕩磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)

GB/T 17626.11-2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)

GB/T 17626.12-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 震蕩波抗擾度試驗(yàn)

GB/T 17626.13-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 交流電源端口諧波、諧間波及電網(wǎng)信號(hào)的低頻抗擾度試驗(yàn)

GB/T 17626.14-2005 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電壓波動(dòng)抗擾度試驗(yàn)

GB/T 17626. 15-2011 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 閃爍儀功能和設(shè)計(jì)規(guī)范

GB/T 17626.16-2007 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 0Hz~150kHz共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)

GB/T 17626.17-2005 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗(yàn)

GB/T 17626. 18-2016 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 阻尼振蕩波抗擾度試驗(yàn)

GB/T 17626. 20-2014 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 橫電磁波(TEM)波導(dǎo)中的發(fā)射和抗擾度試驗(yàn)

GB/T 17626.21-2014 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 混波室試驗(yàn)方法

GB∕T 17626.22-2017 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 全電波暗室中的輻射發(fā)射和抗擾度測(cè)量

GB/T 17626.24-2012 電磁兼容.試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) HEMP傳導(dǎo)騷擾保護(hù)裝置的試驗(yàn)方法

GB/T 18268.26-2010測(cè)量、控制和實(shí)驗(yàn)室用的電設(shè)備 電磁兼容性要求 第26部分:特殊要求 體外診斷(IVD)醫(yī)療設(shè)備

GB/T 17626.27-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 三相電壓不平衡抗擾度試驗(yàn)

GB/T 17626.28-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 工頻頻率變化抗擾度試驗(yàn)

GB/T 17626.29-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 直流電源輸入端口電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)

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